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第七届全国微束分析标准化技术委员会第二次全体委员工作会议于2023年8月22日-25日在辽宁省丹东市召开。委员会委员、特邀报告专家以及来自全国各地的技术委员会委员、企业事业单位代表等参加会议。

此次会议是由全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC 38）主办，中国科学院化学研究所承办，北京普瑞赛司应邀出席。

 

第二次全体工作会议颁发单位委员证书，普瑞赛司担任第七届全国微束分析标准化技术委员会（SAC/TC38）单位委员。

 

普瑞赛司应用总监张鹏经理在单位委员报告时作《显微成像技术在材料分析中的应用》的精彩报告。

 

此次会议上，普瑞赛司带来全新的蔡司EVO系列和Sigma系列产品，并得到业内专家、学者的一致好评。

 

蔡司 Sigma 系列是拥有高品质成像和卓越分析功能的场发射扫描电镜。

它收益于久经考验的Gemini 电子光学技术。Sigma 可以配备多种探测器，可以满足不同的应用需求：颗粒物，表面构型及纳米结构等样品的成像。利用Sigma 直观的 4 步工作流程，可以使得日常所需的成像和分析的效率得到提高。

蔡司 EVO 扫描电子显微镜兼具自动化与高性能的扫描电子显微镜解决方案。

在工业质量、失效分析或研究领域，由于扫描电子显微镜可提供高分辨率成像和高空间分辨率元素化学信息，所以它是金相学和失效分析应用的理想之选。                                                                                                               
 

会议听取了标准化工作相关技术报告，进行充分的讨论与投票，为下一步工作思路展开新的篇章。本次会议有助于微束分析领域全面实施标准化战略，以标准共建共享和互联互通，移动标准创新，支持创新驱动长远发展。

 

 
 

作为分析测试科学领域的供应商，以及蔡司中国区重要的合作伙伴，普瑞赛司将会一如既往地服务于分析测试领域，与国内各行业专家紧密合作，为中国专家及学者提供专业的分析测试解决方案，为提升我国材料研发和检测水平贡献一份力量。

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普瑞赛司|第七届全国微束分析标准化技术委员会第二次全体工作会议顺利举行

2023-08-29 15:35
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